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【冠遠科技】DiaInspect-OSM粒子分析儀適用于微米到鋸片粒度的各種粒度和金剛石。

粒子分析儀特點：

1、有參數(shù)直方圖和參數(shù)組合散點圖；

2、所有參數(shù)組合示意圖；

3、2D和3D虛擬排序；

4、多聚焦功能的深聚焦圖像；

5、孔隙度掃描模塊；

6、曲面和3D三維掃描模式；

7、報告生成一鍵生成；

8、數(shù)據(jù)傳輸EXCEL結(jié)果表；

9、真實粒子、圖像和被測參數(shù)交互連接；

工作原理：

DiaInspect-OSM粒子分析儀把顆粒分散到玻璃板上。當檢查粒徑為幾微米的顆粒時，建議濕敷粉末。玻璃板通過XY臺在掃描運動中移動。陣列大小將根據(jù)實際放大級別自動選擇。圖像采集部分從玻璃板的每個部分獲取并分析連續(xù)圖像，因此可以以高圖像分辨率檢測大量單個粒子。